LJD-C型絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀概述：

　　LJD-C型絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：

　　雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

　　雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。

　　雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

　　自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

　　全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

　　DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

　　計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

　　LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。

　　主要技術(shù)特性：

　　Q 值測(cè)量范圍:       2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

　　固有誤差:≤ 5 % ± 滿(mǎn)度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤6% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz～160MHz)

　　工作誤差:≤7% ± 滿(mǎn)度值的2% ( 200kHz ～ 10MHz ),≤8% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz～160MHz)

　　電感測(cè)量范圍:       4.5nH ～ 140mH

　　電容直接測(cè)量范圍:   1 ～ 200pF

　　主電容調(diào)節(jié)范圍:     18 ～ 220pF

　　主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

　　信號(hào)源頻率覆蓋范圍:  100kHz ～ 160MHz

　　頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

　　頻率指示誤差        :3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字

　　夾具工作特性

　　1.平板電容器：

　　極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

　　極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

　　2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

　　3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

　　4.測(cè)微桿分辨率：0.001mm

      標(biāo)準(zhǔn)配置：

適用單位：

可以用于科研機(jī)關(guān)，學(xué)校，例如一些科研院所，大專(zhuān)院校或計(jì)量測(cè)試部門(mén)的實(shí)驗(yàn)室需要用介電常數(shù)儀對(duì)絕緣材料的介質(zhì)損耗角正切及介電常數(shù)進(jìn)行測(cè)試；北京航天易達(dá)檢測(cè)儀器同時(shí)也適用于工廠或單位，例如一些工廠對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用進(jìn)行研究，另外在電力、電工、化工等領(lǐng)域，如：電廠、電業(yè)局實(shí)驗(yàn)所、變壓器廠、電容器廠、絕緣材料廠、煉油廠等單位對(duì)固體及液體絕緣材料的介質(zhì)損耗和相對(duì)介電常數(shù)ε的質(zhì)量檢測(cè)等等。